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Pesquisa : DE-JAEGER, BRICE [Autor]
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 Acurio, Eliana et al. Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido. Rev Politéc. (Quito), Oct 2022, vol.50, no.1, p.27-34. ISSN 1390-0129

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